基本信息:
- 专利标题： 用于快闪存储的广义乘积码
- 专利标题（英）：Generalized product codes for flash storage
- 申请号：CN201610331443.8 申请日：2016-05-18
- 公开(公告)号：CN106169312A 公开(公告)日：2016-11-30
- 发明人： 内维·库马尔 , 哈曼·巴蒂亚 , 曾令琪
- 申请人： 爱思开海力士有限公司
- 申请人地址： 韩国京畿道
- 专利权人： 爱思开海力士有限公司
- 当前专利权人： 爱思开海力士有限公司
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道
- 代理机构： 北京路浩知识产权代理有限公司
- 代理人： 张晶; 瞿卫军
- 优先权： 62/163,291 2015.05.18 US
- 主分类号： G11C29/42
- IPC分类号： G11C29/42 ; G06F11/10
摘要：
本发明提供一种存储器系统，其可包括：编码器，其适于将数据排列在数据块行中作为多个编码字、置换数据块行以及在所置换的行上构建行校验；以及解码器，其适于解码编码字以及当编码字的解码失败时校正卡止错误模式。
摘要（英）：
The invention provides a memory system which may include an encoder suitable for arranging data in rows of data blocks as a plurality of codewords, and permuting the data block rows and constructing row parities on the permuted rows, and a decoder suitable for decoding the codewords, and correcting stuck error patterns when decoding of the codewords fails.
公开/授权文献:
- CN106169312B 用于快闪存储的广义乘积码 公开/授权日：2021-05-07
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/04 | .损坏存储元件的检测或定位 |
| ----------G11C29/08 | ..功能测试，例如，在刷新、通电自检（POST）或分布型测试期间的测试 |
| ------------G11C29/12 | ...用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置（BIST） |
| --------------G11C29/38 | ....响应验证装置 |
| ----------------G11C29/42 | .....用纠错码（ECC）或奇偶校验检查 |