基本信息:
- 专利标题： 预测保护电路是否可能防止受监控电路内的潜在故障的系统及方法
- 专利标题（英）：System and method to predict whether a protection circuit is likely to prevent a latent failure within a monitored circuit
- 申请号：CN201580012334.3 申请日：2015-01-12
- 公开(公告)号：CN106068459A 公开(公告)日：2016-11-02
- 发明人： 凯·切斯纳特 , 安东尼·C·勒 , 玛丽安娜·杜利
- 申请人： 波音公司
- 申请人地址： 美国伊利诺斯州
- 专利权人： 波音公司
- 当前专利权人： 波音公司
- 当前专利权人地址： 美国伊利诺斯州
- 代理机构： 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理人： 梁丽超; 陈鹏
- 优先权： 14/201,420 2014.03.07 US
- 国际申请： PCT/US2015/010989 2015.01.12
- 国际公布： WO2015/134116 EN 2015.09.11
- 进入国家日期： 2016-09-06
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/311
摘要：
一种方法包括：测量受监控电路的多个闭锁解除参数值，以生成数据。该多个闭锁解除参数值中的各闭锁解除参数值与受监控电路退出闭锁状态相关联。该方法还包括：基于该数据并且基于与受监控电路耦接的保护电路的一个或多个特征值来预测保护电路是否能够在特定的闭锁条件下防止在受监控电路内发生潜在故障。
摘要（英）：
A method includes measuring a plurality of latchup release parameter values of a monitored circuit to generate data. Each latchup release parameter value of the plurality of latchup release parameter values is associated with the monitored circuit exiting a latchup state. The method also include predicting, based on the data and based on one or more characteristic values of a protection circuit coupled to the monitored circuit, whether the protection circuit is likely to prevent an occurrence of a latent failure within the monitored circuit in particular latchup conditions.
公开/授权文献:
- CN106068459B 预测保护电路是否可能防止受监控电路内的潜在故障的系统及方法 公开/授权日：2019-06-18
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/28 | .电路的测试，例如用信号故障寻测器 |