基本信息:
- 专利标题： 实时基线确定的力测量
- 专利标题（英）：Force measurement with real-time baseline determination
- 申请号：CN201480075041.5 申请日：2014-12-08
- 公开(公告)号：CN106030316A 公开(公告)日：2016-10-12
- 发明人： 刘长春 , B·皮腾杰 , 胡水清 , 苏全民
- 申请人： 布鲁克公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 布鲁克公司
- 当前专利权人： 布鲁克公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 北京鸿元知识产权代理有限公司
- 代理人： 许向彤; 陈英俊
- 优先权： 61/913,248 2013.12.07 US
- 国际申请： PCT/US2014/069150 2014.12.08
- 国际公布： WO2015/085316 EN 2015.06.11
- 进入国家日期： 2016-08-05
- 主分类号： G01Q30/00
- IPC分类号： G01Q30/00
摘要：
一种原子力显微镜(AFM)及其方法，提供较小力的(sub‑20pN)AFM控制，并提供力学性能测试。优选实施例采用实时的虚假偏转修正/辨别，通过适应性地修改驱动倾斜来符合偏转伪影。
摘要（英）：
An atomic force microscope (AFM) and corresponding method to provide low force (sub-20 pN) AFM control and mechanical property measurement is provided. The preferred embodiments employ real-time false deflection correction/discrimination by adaptively modifying the drive ramp to accommodate to deflection artifacts.
公开/授权文献:
- CN106030316B 实时基线确定的力测量 公开/授权日：2019-02-19
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01Q | 扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术 |
| ------G01Q30/00 | 用于辅助或改进扫描探针技术或设备的辅助手段，例如显示或数据处理装置 |