基本信息:
- 专利标题： 用于半导体集成电路器件的功能数字测试的自动测试设备
- 专利标题（英）：Automatic test apparatus for functional digital testing of multiple semiconductor integrated circuit devices
- 申请号：CN201610095251.1 申请日：2016-02-19
- 公开(公告)号：CN105911462A 公开(公告)日：2016-08-31
- 发明人： M·R·米迪尔
- 申请人： 得克萨斯测试公司
- 申请人地址： 美国德克萨斯州
- 专利权人： 得克萨斯测试公司
- 当前专利权人： 得克萨斯测试公司
- 当前专利权人地址： 美国德克萨斯州
- 代理机构： 北京派特恩知识产权代理有限公司
- 代理人： 武晨燕; 迟姗
- 优先权： 62/118,979 2015.02.20 US; 15/046,283 2016.02.17 US
- 主分类号： G01R31/319
- IPC分类号： G01R31/319 ; G01R31/3193
摘要：
一种用于测试多个半导体集成电路器件的数字功能的自动测试设备，所述多个半导体集成电路器件同时连接到该设备，该设备生成适于测试至少一个器件的数据模式。数据模式的激励测试信号被复制并被分布到器件。器件对测试信号的期望响应信息也被复制并被分布到比较器，以将器件的实际响应与期望响应相比较。
摘要（英）：
An automatic test apparatus for testing the digital functionality of multiple semiconductor integrated circuit devices simultaneously connected to the apparatus generates data patterns suitable for testing at least one of the devices. Stimulus test signals of the data patterns are replicated and distributed to the devices. Expected response signals of the devices for the test signals are also replicated and distributed to comparators for comparing the actual response of the devices with the expected response.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/319 | ....测试器硬件，即输出处理电路 |