基本信息:
- 专利标题： 集装箱CT检查系统
- 申请号：CN201610186955.X 申请日：2016-03-29
- 公开(公告)号：CN105784737B 公开(公告)日：2021-06-22
- 发明人： 李荐民 , 李玉兰 , 张丽 , 李亮 , 宗春光 , 于昊 , 康克军 , 李元景 , 陈志强 , 苗齐田 , 程建平
- 申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园;
- 专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园;
- 代理机构： 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理人： 艾春慧
- 主分类号： G01N23/046
- IPC分类号： G01N23/046
摘要：
本发明公开了一种集装箱CT检查系统，包括扫描装置，所述扫描装置包括放射源装置和探测器阵列，所述扫描装置还包括内外双层设置的第一轨道和第二轨道，其中，所述放射源装置设置于所述第一轨道上，所述探测器阵列设置于所述第二轨道上。本发明实现了放射源装置和探测器阵列分别由不同的轨道支撑，改善圆环形旋转架需要承载的负荷很大的现状，对于第一轨道和第二轨道中每个轨道来说，强度要求相对于圆环形旋转架都大大降低，因此与现有技术的集装箱CT检查系统相比有效地降低了加工难度。
公开/授权文献:
- CN105784737A 集装箱CT检查系统 公开/授权日：2016-07-20
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |
| ------------G01N23/046 | ...应用X光断层技术，如计算机X光断层技术 |