基本信息:
- 专利标题： 测量切割宝石的参数
- 专利标题（英）：Measuring parameters of a cut gemstone
- 申请号：CN201480051092.4 申请日：2014-07-17
- 公开(公告)号：CN105593668A 公开(公告)日：2016-05-18
- 发明人： 尼古拉斯·马修·戴维斯 , 塞欧翰·D伽马 , 皮特·斯坦利·罗斯 , 麦克斯韦·拉尔夫·威利斯
- 申请人： 戴比尔斯英国有限公司
- 申请人地址： 英国伦敦
- 专利权人： 戴比尔斯英国有限公司
- 当前专利权人： 戴比尔斯英国有限公司
- 当前专利权人地址： 英国伦敦
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 王慧忠
- 优先权： 1312888.9 2013.07.18 GB
- 国际申请： PCT/EP2014/065454 2014.07.17
- 国际公布： WO2015/007873 EN 2015.01.22
- 进入国家日期： 2016-03-16
- 主分类号： G01N21/87
- IPC分类号： G01N21/87
摘要：
一种设备和对应的方法，用于在切割宝石定位在单个测量位置处时测量所述切割宝石的多个参数。设备包括多个光源，所述多个光源中的每个都被构造成用于发射处于多个发射波长或波长范围中不同的一个发射波长或波长范围的光，使得发出的光至少照射测量位置的部分。设备进一步地包括传感器组件，所述传感器组件被构造成用于感测处于多个感测波长或波长范围的光，以用于测量多个参数。由于定位在测量位置处的切割宝石的照射，来自测量位置的被感测的光在传感器组件处被接收。
摘要（英）：
Apparatus and corresponding methods for measuring a plurality of parameters of a cut gemstone while it is positioned at a single measurement location. Apparatus comprise a plurality of light sources, each configured to emit light at a different one of a plurality of emission wavelengths or ranges of wavelengths such that the emitted light illuminates at least part of the measurement location. Apparatus further comprise a sensor assembly configured to sense light at a plurality of sensing wavelengths or ranges of wavelengths for measuring the plurality of parameters. The sensed light is received at the sensor assembly from the measurement location as a result of illumination of a cut gemstone located at the measurement location.
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/87 | ..测试宝石 |