基本信息:
- 专利标题： 一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法
- 申请号：CN201510634072.6 申请日：2015-09-29
- 公开(公告)号：CN105182210B 公开(公告)日：2018-11-09
- 发明人： 成达 , 张蓬鹤 , 薛阳 , 郜波 , 赵越 , 秦程林 , 石二微 , 王雅涛 , 谭琛 , 陈盛 , 曹杰明 , 赵立涛 , 张世安 , 米沛红
- 申请人： 中国电力科学研究院 , 国家电网公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清河小营东路15号
- 专利权人： 中国电力科学研究院,国家电网公司
- 当前专利权人： 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清河小营东路15号
- 代理机构： 北京安博达知识产权代理有限公司
- 代理人： 徐国文
- 主分类号： G01R31/26
- IPC分类号： G01R31/26 ; G01R1/04
The invention discloses a general interface of a metering chip measurement device and an implementation method of the general interface. The general interface comprises a microprocessor and an external circuit. The external circuit comprises an SPI interface, a UART interface, an IIC interface, a GPIO interface and an Ethernet interface. One end of the general interface is connected with the SPI interface, the UART interface, the IIC interface and the GPIO interface, and the other end is connected with a bus socket for external connection. The Ethernet interface is connected with a MAC interface of the microprocessor. According to the technical scheme, digital interfaces commonly used in embedded products are designed together on the basis of a set of simple protocols, so that read/write control of the plurality of electrical communication interfaces is achieved by means of the protocols.
公开/授权文献:
- CN105182210A 一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法 公开/授权日：2015-12-23
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/26 | .单个半导体器件的测试 |