基本信息:
- 专利标题： 嵌入式测试器
- 申请号：CN201480004919.6 申请日：2014-01-07
- 公开(公告)号：CN104937428B 公开(公告)日：2018-02-27
- 发明人： 乔舒亚·马松·费里
- 申请人： 泰拉丁公司
- 申请人地址： 美国马萨诸塞州
- 专利权人： 泰拉丁公司
- 当前专利权人： 泰拉丁公司
- 当前专利权人地址： 美国马萨诸塞州
- 代理机构： 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理人： 戚传江; 金洁
- 优先权： 13/746,764 2013.01.22 US
- 国际申请： PCT/US2014/010418 2014.01.07
- 国际公布： WO2014/116408 EN 2014.07.31
- 进入国家日期： 2015-07-15
- 主分类号： G01R31/3187
- IPC分类号： G01R31/3187
摘要：
一种待测设备上用于测试待测设备的部件电路的测试器，所述测试器包括：逻辑器，所述逻辑器通过固件配置以实施测试电路，所述测试电路包括：协议发生器，所述协议发生器可被配置为生成协议；模式发生器，所述模式发生器可被配置为提供可根据所述协议中的一个或多个进行驱动的测试模式；和系统控制器，所述系统控制器用于响应于程序输入来选择用以测试所述部件电路的测试模式和协议。
摘要（英）：
A tester on a device under test to test component circuitry of the device under test, the tester comprising: logic configured with firmware to implement test circuitry comprising: protocol generators that are configurable to generate protocols; pattern generators that are configurable to provide test patterns that are drivable according to one or more of the protocols; and a system controller to select, in response to a program input, a test pattern and a protocol with which to test the component circuitry.
公开/授权文献:
- CN104937428A 嵌入式测试器 公开/授权日：2015-09-23
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/3187 | ....置入测试 |