基本信息:
- 专利标题： 用于调整校准元件的方法及对应的装置
- 申请号：CN201380029201.8 申请日：2013-03-29
- 公开(公告)号：CN104620089B 公开(公告)日：2017-09-08
- 发明人： M.克罗西
- 申请人： 微型金属薄膜电阻器有限公司
- 申请人地址： 瑞士门德里西奥
- 专利权人： 微型金属薄膜电阻器有限公司
- 当前专利权人： 微型金属薄膜电阻器有限公司
- 当前专利权人地址： 瑞士门德里西奥
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 严志军; 傅永霄
- 国际申请： PCT/IB2013/052553 2013.03.29
- 国际公布： WO2013/150435 EN 2013.10.10
- 进入国家日期： 2014-12-03
- 主分类号： G01L9/00
- IPC分类号： G01L9/00 ; G01L9/06 ; G01L9/12 ; G01L9/04 ; G01L9/10 ; H01C17/23 ; H01C17/242
摘要：
一种用于调整校准元件(30)的电气行为或特征的方法，包括通过在前述校准元件(30)中产生一个或更多个切口或切割部(32)来调整前述校准元件(30)的电气行为或特征。具体而言，校准元件(30)包括多个孔口(340)，并且该方法包括在其边缘与前述孔口(340)中的至少一个之间产生校准元件(30)中的切口或切割部，以及/或者在前述孔口(340)中的至少两个之间产生校准元件(30)中的切口或切割部。
公开/授权文献:
- CN104620089A 用于调整校准元件的方法及对应的装置 公开/授权日：2015-05-13