基本信息:
- 专利标题： 自修复器件
- 专利标题（英）：Self-repair device
- 申请号：CN201310684632.X 申请日：2013-12-13
- 公开(公告)号：CN104464819A 公开(公告)日：2015-03-25
- 发明人： 沈荣辅
- 申请人： 爱思开海力士有限公司
- 申请人地址： 韩国京畿道
- 专利权人： 爱思开海力士有限公司
- 当前专利权人： 爱思开海力士有限公司
- 当前专利权人地址： 韩国京畿道
- 代理机构： 北京弘权知识产权代理事务所
- 代理人： 俞波; 毋二省
- 优先权： 10-2013-0109649 2013.09.12 KR
- 主分类号： G11C29/12
- IPC分类号： G11C29/12 ; G11C29/44
摘要：
一种自修复器件，包括：阵列断裂电熔丝ARE阵列块，被配置成储存故障地址；ARE控制块，被配置成根据故障地址来控制熔丝组的修复操作、比较多个故障地址、以及确定故障状态；以及冗余块，被配置成储存故障地址的熔丝数据、比较输入地址与故障地址、以及控制行冗余操作和列冗余操作。
摘要（英）：
A self-repair device includes an ARE (array rupture electrical fuse) array block configured to store fail addresses; an ARE control block configured to control a repair operation of fuse sets according to the fail addresses, compare a plurality of the fail addresses, and determine a failed state; and a redundancy block configured to store fuse data of the fail addresses, compare an input address with the fail addresses, and control row and column redundancy operations.
公开/授权文献:
- CN104464819B 自修复器件 公开/授权日：2019-06-18
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/04 | .损坏存储元件的检测或定位 |
| ----------G11C29/08 | ..功能测试，例如，在刷新、通电自检（POST）或分布型测试期间的测试 |
| ------------G11C29/12 | ...用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置（BIST） |