基本信息:
- 专利标题： 一种在低频电场下测试材料屏蔽效能的装置和方法
- 申请号：CN201410542459.4 申请日：2014-10-14
- 公开(公告)号：CN104330658B 公开(公告)日：2017-07-07
- 发明人： 焦重庆 , 史晓宁 , 聂京凯 , 嵇建飞
- 申请人： 华北电力大学 , 国网智能电网研究院 , 江苏省电力公司电力科学研究院
- 申请人地址： 北京市昌平区朱辛庄北农路2号; ;
- 专利权人： 华北电力大学,国网智能电网研究院,江苏省电力公司电力科学研究院
- 当前专利权人： 华北电力大学,国网智能电网研究院,江苏省电力公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址： 北京市昌平区朱辛庄北农路2号; ;
- 代理机构： 北京众合诚成知识产权代理有限公司
- 代理人： 陈波
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00
摘要：
本发明涉及电磁屏蔽技术领域，特别是涉及一种电磁屏蔽材料在低频电场中屏蔽效能的测试方法。本方法所用装置由屏蔽室、极板、交流电源、电阻、测量设备组成；屏蔽室由金属材料制成，一侧开有测试窗，测试窗外部和内部分别平行放置发射极板和测试极板；发射极板与屏蔽体外壳间施加低频交流电源，用于产生交变电场；测试极板和屏蔽体内壁间通过大电阻相连，内极板在交变电场中产生感应电压，从而在大电阻中有感应电流流过，通过测量用待测材料封堵测试窗前后大电阻两端电压值，可计算低频电场中待测材料的屏蔽效能。
公开/授权文献:
- CN104330658A 一种在低频电场下测试材料屏蔽效能的装置和方法 公开/授权日：2015-02-04
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |