基本信息:
- 专利标题： 存储器维修装置及其应用方法
- 专利标题（英）：Method and apparatus for memory repair
- 申请号：CN201310543132.4 申请日：2013-11-05
- 公开(公告)号：CN104051025A 公开(公告)日：2014-09-17
- 发明人： 洪硕男 , 罗棋 , 洪俊雄
- 申请人： 旺宏电子股份有限公司
- 申请人地址： 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号
- 专利权人： 旺宏电子股份有限公司
- 当前专利权人： 旺宏电子股份有限公司
- 当前专利权人地址： 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 任岩
- 优先权： 61/775,734 2013.03.11 US
- 主分类号： G11C29/44
- IPC分类号： G11C29/44
摘要：
本发明公开了一种存储器维修装置及其应用方法，该集成电路包括一被配置成多个列，多个主要行的存储器单元阵列，以及多个用以维修阵列中的瑕疵的备援行。主要行及备援行又被划分成列区块。位线耦接主要行至用以显示被备援行修复的瑕疵行的维修状态存储器。集成电路接收一指令并根据指令所存取的一部分存储器的一些特定列区块的维修状态来更新维修状态存储器。另外，维修状态存储器没有足够的容量储存多个主要行的列区块的维修状态。
摘要（英）：
An integrated circuit includes an array of memory cells that is arranged into rows, main columns, and redundant columns that perform repairs in the array. The main columns and the redundant columns are divided into row blocks. Bit lines couple the main columns to status memory indicating repair statuses of the repairs by the redundant columns. The integrated circuit receives a command, and performs an update on the status memory with the repair statuses specific to particular ones of the row blocks in a portion of the memory accessed by the command. Alternatively or in combination, the status memory has insufficient size to store the repair statuses of multiple ones of the row blocks of the main columns.
公开/授权文献:
- CN104051025B 存储器维修装置及其应用方法 公开/授权日：2017-03-01
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G11 | 信息存储 |
| ----G11C | 静态存储器 |
| ------G11C29/00 | 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器 |
| --------G11C29/04 | .损坏存储元件的检测或定位 |
| ----------G11C29/08 | ..功能测试，例如，在刷新、通电自检（POST）或分布型测试期间的测试 |
| ------------G11C29/12 | ...用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置（BIST） |
| --------------G11C29/44 | ....错误指示或识别，例如，修复 |