基本信息:
- 专利标题： 用于X射线光栅微分相衬成像的X射线源
- 申请号：CN201410256661.0 申请日：2014-06-10
- 公开(公告)号：CN104034741B 公开(公告)日：2016-10-05
- 发明人： 牛憨笨 , 李冀 , 黄建衡
- 申请人： 深圳大学
- 申请人地址： 广东省深圳市南山区南海大道3688号
- 专利权人： 深圳大学
- 当前专利权人： 深圳大学
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市南山区南海大道3688号
- 代理机构： 深圳市瑞方达知识产权事务所
- 代理人： 张秋红
- 主分类号： G01N23/04
- IPC分类号： G01N23/04 ; A61B6/03
摘要：
本发明公开了一种用于X射线光栅微分相衬成像的X射线源，包括环形阴极、阳极靶、电极结构、阴极加热电源和电极结构电源；环形阴极与阳极靶的靶面相对设置，环形阴极后方设置有对应环形阴极中间位置且与阳极靶的靶面平行的X射线出射窗；阳极靶的靶面与出射X射线的光轴方向垂直；所述电极结构包括阴极套筒和阳极套筒；阳极靶设在所述阳极套筒中；环形阴极设在所述阴极套筒中；阳极靶的靶面上设有由两种不同材料周期相间组成的阵列结构，两种不同材料分别采用两种原子序数差异较大的元素形成的物质。本发明提供一种结构相对简单的应用在高能X射线相衬成像的新型X射线源，由于出射X射线无轴向分布从而彻底解决了视场受限问题。
公开/授权文献:
- CN104034741A 用于X射线光栅微分相衬成像的X射线源 公开/授权日：2014-09-10
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |
| ----------G01N23/04 | ..并形成图像 |