![一种基于N型注入层的IGBT芯片及其制造方法](/CN/2013/1/105/images/201310527108.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 一种基于N型注入层的IGBT芯片及其制造方法
- 申请号:CN201310527108.1 申请日:2013-10-30
- 公开(公告)号:CN103531620B 公开(公告)日:2017-02-08
- 发明人: 刘江 , 包海龙 , 张宇 , 刘隽 , 车家杰 , 赵哿 , 高明超 , 金锐
- 申请人: 国家电网公司 , 国网上海市电力公司 , 国网智能电网研究院
- 申请人地址: 北京市西城区西长安街86号
- 专利权人: 国家电网公司,国网上海市电力公司,国网智能电网研究院
- 当前专利权人: 国家电网公司,国网上海市电力公司,国网智能电网研究院
- 当前专利权人地址: 北京市西城区西长安街86号
- 代理机构: 北京安博达知识产权代理有限公司
- 代理人: 徐国文
- 主分类号: H01L29/739
- IPC分类号: H01L29/739 ; H01L29/06 ; H01L21/331
摘要:
本发明涉及半导体器件技术,具体涉及一种基于N型注入层的IGBT芯片及其制造方法。IGBT芯片包括有源区、终端区和栅极区,在所述有源区和所述终端区均设有N型注入层;所述N型注入层在有源区包括以下设置方式:所述N型注入层包围P-基区;所述N型注入层包围P-基区且延伸到栅氧化层的下方和所述N型注入层包围P-基区且未包围P-基区拐角处。还提供了一种IGBT芯片的制造方法,本发明中在IGBT设计时引入N型注入层,优化了终端区的设计,降低了终端区的尺寸。同时降低了有源区的饱和电压,提高了芯片的电流能力。本发明在不影响IGBT芯片其他性能的前提下,通过引入N型注入层,优化IGBT芯片各功能区域的比例,提高了IGBT芯片的电流能力。
公开/授权文献:
- CN103531620A 一种基于N型注入层的IGBT芯片及其制造方法 公开/授权日:2014-01-22
IPC结构图谱:
H | 电学 |
--H01 | 基本电气元件 |
----H01L | 半导体器件;其他类目未包含的电固体器件 |
------H01L29/00 | 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件 |
--------H01L29/02 | .按其半导体本体的特征区分的 |
----------H01L29/68 | ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的 |
------------H01L29/70 | ...双极器件 |
--------------H01L29/72 | ....晶体管型器件,如连续响应于所施加的控制信号的 |
----------------H01L29/739 | .....受场效应控制的 |