基本信息:
- 专利标题： 一种测试电子产品关机温度的系统和方法
- 申请号：CN201110440540.8 申请日：2011-12-26
- 公开(公告)号：CN103176071B 公开(公告)日：2016-06-29
- 发明人： 宫清 , 宋以鹰 , 叶迪峰 , 吴知东
- 申请人： 比亚迪股份有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市坪山新区比亚迪路3009号
- 专利权人： 比亚迪股份有限公司
- 当前专利权人： 比亚迪股份有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市坪山新区比亚迪路3009号
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00
摘要：
本发明提供了一种测试电子产品关机温度的系统，包括控制器、温控箱、置于温控箱中的被测试部件、及给被测试部件供电的电源，所述控制器控制温控箱的温度及电源的开关；还包括继电器，所述被测试部件包括用于启动该测试部件的常开触点开关，所述继电器的常开触点与所述常开触点开关并联，所述继电器的线圈绕组串联在电源回路中，所述控制器控制电源给继电器供电。本发明通过继电器的导通来开启被测试部件，从而可以在被测试部件由于受温差影响导致其不正常关机时，可以重启被测试部件并监控其运行情况，以此来确定测试结果是否精确。
公开/授权文献:
- CN103176071A 一种测试电子产品关机温度的系统和方法 公开/授权日：2013-06-26
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |