基本信息:
- 专利标题： 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法
- 专利标题（英）：Testing method of single event functional interruption of Spacewire circuit
- 申请号：CN201210512499.5 申请日：2012-11-30
- 公开(公告)号：CN103076557B 公开(公告)日：2015-03-25
- 发明人： 陈莉明 , 董攀 , 郑宏超 , 飞海东 , 王兴友 , 祝长民 , 范隆 , 岳素格 , 杜守刚 , 马建华 , 王煌伟 , 陈茂鑫 , 文圣泉 , 毕潇
- 申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址： 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 专利权人： 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人： 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址： 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 代理机构： 中国航天科技专利中心
- 代理人： 安丽
- 主分类号： G01R31/317
- IPC分类号： G01R31/317
摘要：
一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。
公开/授权文献:
- CN103076557A 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法 公开/授权日：2013-05-01