基本信息:
- 专利标题： 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法
- 专利标题（英）：Single event effect detection method of folding interpolating-type analog-digital conversion device
- 申请号：CN201210548033.0 申请日：2012-12-11
- 公开(公告)号：CN103001636A 公开(公告)日：2013-03-27
- 发明人： 陈莉明 , 董攀 , 郑宏超 , 范隆 , 岳素格 , 杨松 , 马建华 , 陈茂鑫 , 文圣泉 , 杜守刚 , 王煌伟 , 毕潇
- 申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址： 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 专利权人： 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人： 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址： 北京市丰台区东高地四营门北路2号
- 代理机构： 中国航天科技专利中心
- 代理人： 安丽
- 主分类号： H03M1/10
- IPC分类号： H03M1/10
A single event effect detection method of a folding interpolating-type analog-digital conversion device can automatically detect single-particle errors and single-particle latch situations of the folding interpolating-type analog-digital conversion device caused by single-particle bombardment under single-particle bombardment situations and can conduct classified comparison on the single-particle errors. The analog-digital conversion device is arranged under high frequency working situations, and output changes of the analog-digital conversion device to be detected can be effectively detected. The single event effect detection method sufficiently uses internal logical relationships before and after occurrence of the single-particle errors, can accurately judge data bits produced by production of the single-particle errors and output accuracy errors of the analog-digital conversion device caused by the single-particle errors.
公开/授权文献:
- CN103001636B 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法 公开/授权日：2015-07-08
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H03 | 基本电子电路 |
| ----H03M | 一般编码、译码或代码转换 |
| ------H03M1/00 | 模/数转换；数/模转换 |
| --------H03M1/10 | .校正或测试 |