基本信息:
- 专利标题： 玻璃基板的检测装置及检测方法
- 专利标题（英）：Detection device and detection method for glass substrate
- 申请号：CN201210079294.2 申请日：2012-03-22
- 公开(公告)号：CN102636498B 公开(公告)日：2014-04-16
- 发明人： 朱二庆 , 吴俊豪 , 林昆贤 , 汪永强 , 杨卫兵 , 李贤德
- 申请人： 深圳市华星光电技术有限公司
- 申请人地址： 广东省深圳市光明新区公明办事处塘家社区观光路汇业科技园综合楼1第一层B区
- 专利权人： 深圳市华星光电技术有限公司
- 当前专利权人： 深圳市华星光电技术有限公司
- 当前专利权人地址： 广东省深圳市光明新区公明办事处塘家社区观光路汇业科技园综合楼1第一层B区
- 代理机构： 深圳市威世博知识产权代理事务所
- 代理人： 何青瓦; 丁建春
- 主分类号： G01N21/958
- IPC分类号： G01N21/958
摘要：
本发明提供一种玻璃基板的检测装置及检测方法，用于检测承载于卡匣中的玻璃基板是否存在破损。该检测装置包括至少一传感器组和至少一处理单元。传感器组包括位于玻璃基板一侧的一投光元件和分别位于玻璃基板两侧的两个受光元件，处理单元用于判断两个受光元件检测的亮度之间的亮度差是否处于预定范围，若该亮度差未处于预定范围，则被检测的玻璃基板存在破损。通过上述方式，本发明能够减少或避免破损玻璃基板进入显示面板制程线。
公开/授权文献:
- CN102636498A 玻璃基板的检测装置及检测方法 公开/授权日：2012-08-15
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/88 | ..测试瑕疵、缺陷或污点的存在 |
| ------------G01N21/95 | ...特征在于待测物品的材料或形状 |
| --------------G01N21/958 | ....检测透明材料 |