基本信息:
- 专利标题： 创建识别材料的函数曲线的方法和装置
- 专利标题（英）：Method and device for creating function curve of identified material
- 申请号：CN201110392171.X 申请日：2008-05-09
- 公开(公告)号：CN102519988B 公开(公告)日：2014-08-20
- 发明人： 王学武 , 钟华强 , 李清华 , 王小兵
- 申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址： 北京市海淀区清华园1号
- 专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人： 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区清华园1号
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 王波波
- 分案原申请号： 2008101062781 2008.05.09
- 主分类号： G01N23/02
- IPC分类号： G01N23/02
摘要：
公开了一种利用前向散射辐射检查物体的系统中创建识别材料的函数曲线的方法和装置，该方法包括步骤：使得通过辐射源发射的直接辐射和散射体发射的前向散射辐射与不同厚度的已知材料相互作用，并探测得到穿透值；匹配两种能量对相同厚度的各种材料的穿透值，即计算两种能量下的透明度之间的比值；按照不同材料分组，根据所述比值拟合出各种材料随厚度的变化曲线，作为识别材料的函数曲线。本发明可用在海关、港口、机场对货物进行不开箱检查，也可用于生物学研究或医学检测。
公开/授权文献:
- CN102519988A 创建识别材料的函数曲线的方法和装置 公开/授权日：2012-06-27
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N23/00 | 利用未包括在G01N21/00或G01N22/00组内的波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、中子 |
| --------G01N23/02 | .通过使辐射透过材料 |