基本信息:
- 专利标题： 集成光电二极管波长监视器
- 专利标题（英）：Integrated photodiode wavelength monitor
- 申请号：CN201080040583.0 申请日：2010-07-02
- 公开(公告)号：CN102484352A 公开(公告)日：2012-05-30
- 发明人： G·布西科 , N·D·怀特布里德 , A·J·沃德 , A·摩泽利
- 申请人： 奥兰若技术有限公司
- 申请人地址： 英国北安普敦郡
- 专利权人： 奥兰若技术有限公司
- 当前专利权人： 奥兰若技术有限公司
- 当前专利权人地址： 英国北安普敦郡
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 刘春元; 李家麟
- 优先权： 61/224933 2009.07.13 US
- 国际申请： PCT/IB2010/001627 2010.07.02
- 国际公布： WO2011/007227 EN 2011.01.20
- 进入国家日期： 2012-03-13
- 主分类号： H01S5/026
- IPC分类号： H01S5/026 ; H01S5/0687 ; G02B6/12
摘要：
一种集成于晶片和/或光学设备上并且耦合到其光学部件的光学波长监视器光电二极管提供波长测量。光学波长监视器包括被配置成输出信号的光电二极管，该信号代表光的波长。可以在光学波长监视器中包括附加光电二极管，每个光电二极管在操作特性上不同于其它光电二极管。可以在以晶片形式之时并且当已经以条级从晶片切分光学设备时测试光学设备时使用监视器。可以例如在使用期间执行光学设备的测试/监视以控制激光器（比如可调激光器）的波长。
摘要（英）：
An optical wavelength monitor photodiode integrated on a wafer and/or an optical device and coupled to optical components thereof provides wavelength measurement. The optical wavelength monitor includes a photodiode configured to output a signal that is representative of a wavelength of the light. An additional photodiode may be included in the optical wavelength monitor, each photodiode differing from the other in operating characteristics. The monitor may be used in testing the optical device while in wafer form and when the optical device has been cleaved from the wafer at the bar level. Testing/monitoring of the optical device may also be performed during use, for example, to control the wavelength of a laser such as a tunable laser.
公开/授权文献:
- CN102484352B 集成光电二极管波长监视器 公开/授权日：2015-09-09