基本信息:
- 专利标题： 用于使用多个指令类型进行系统测试的方法与设备
- 专利标题（英）：METHOD AND APPARATUS FOR SYSTEM TESTING USING MULTIPLE INSTRUCTION TYPES
- 申请号：CN201080010623.7 申请日：2010-03-03
- 公开(公告)号：CN102341718A 公开(公告)日：2012-02-01
- 发明人： 苏雷什·戈雅尔 , 米歇尔·波特兰 , 布拉德福德·范特鲁尤伦
- 申请人： 阿尔卡特朗讯
- 申请人地址： 法国巴黎市
- 专利权人： 阿尔卡特朗讯
- 当前专利权人： 乌索投资有限公司
- 当前专利权人地址： 法国巴黎市
- 代理机构： 北京汉昊知识产权代理事务所
- 代理人： 罗朋
- 优先权： 61/157,412 2009.03.04 US
- 国际申请： PCT/US2010/026022 2010.03.03
- 国际公布： WO2010/101984 EN 2010.09.10
- 进入国家日期： 2011-09-05
- 主分类号： G01R31/3185
- IPC分类号： G01R31/3185
An apparatus for use in testing at least a portion of a system under test via a Test Access Port (TAP) is provided. The apparatus includes a memory for storing a set of instructions of a test instruction set architecture and a processor executing the set of instructions of the test instruction set architecture for testing at least a portion of the system under test via the TAP. The set of instructions of the test instruction set architecture includes a first set of instructions including a plurality of instructions of an Instruction Set Architecture (ISA) supported by the processor and a second set of instructions including a plurality of test instructions associated with the TAP. The instructions of the first set of instructions and the instructions of the second set of instructions are integrated to form the set of instructions of the test instruction set architecture.
公开/授权文献:
- CN102341718B 用于使用多个指令类型进行系统测试的方法与设备 公开/授权日：2015-05-20
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/3185 | ....测试的重新配置，例如LSSD，划分 |