
基本信息:
- 专利标题: 质量控制系统、质量控制装置以及质量控制方法
- 专利标题(英):Quality control system, quality control apparatus, and quality control method
- 申请号:CN200910205573.7 申请日:2009-10-16
- 公开(公告)号:CN101794106B 公开(公告)日:2014-12-17
- 发明人: 里永哲一 , 高野昌泰 , 松田典之 , 濑田昭子 , 足立康二 , 安川薰
- 申请人: 富士施乐株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 富士施乐株式会社
- 当前专利权人: 富士胶片商业创新有限公司
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理人: 陈源; 张天舒
- 优先权: 2009-023812 2009.02.04 JP
- 主分类号: G03G21/00
- IPC分类号: G03G21/00
摘要:
本发明涉及质量控制系统、质量控制装置和质量控制方法。质量控制方法包括:从已经在电子设备中出现的故障的时序分布中,提取故障出现的第一状态特征;指定与故障相关的包含在电子设备中的一个或多个部件;从提供指定部件的每个供应商的相应使用率的另一时序分布中,提取部件的第二特征;以及根据提取的第一特征与提取的第二特征之间的相关性,来指定一个或多个提供了故障相关部件的供应商。
公开/授权文献:
- CN101794106A 质量控制系统、质量控制装置以及质量控制方法 公开/授权日:2010-08-04
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G03 | 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术 |
----G03G | 电记录术;电照相;磁记录 |
------G03G21/00 | 不包括在G03G13/00至G03G19/00各组中的装置,例如,清洁、消除残余电荷 |