基本信息:
- 专利标题： 用于对待测设备进行测试的测试器、方法和计算机程序
- 专利标题（英）：Tester, method for testing a device under test and computer program
- 申请号：CN200680056750.4 申请日：2006-12-22
- 公开(公告)号：CN101568845B 公开(公告)日：2012-03-14
- 发明人： 马丁·史密茨
- 申请人： 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
- 申请人地址： 新加坡新加坡市
- 专利权人： 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
- 当前专利权人： 爱德万测试公司
- 当前专利权人地址： 新加坡新加坡市
- 代理机构： 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
- 代理人： 宋鹤; 南霆
- 国际申请： PCT/EP2006/012512 2006.12.22
- 国际公布： WO2008/077429 EN 2008.07.03
- 进入国家日期： 2009-06-22
- 主分类号： G01R31/319
- IPC分类号： G01R31/319
A tester for testing a device under test comprises a first channel unit and a second channel unit. The first channel unit comprises a corresponding first pin connection for a signal from a device under test, a corresponding first test processor adapted to process, at least partially, data obtained from the first pin connection, and a corresponding first memory coupled with the first test processorand adapted to store data provided by the first test processor. The first channel unit is adapted to transfer at least a part of the data obtained from the first pin connection to the second channelunit as transfer data. The second channel unit comprises a corresponding second test processor adapted to process, at least partly, the transfer data from the first channel unit.
公开/授权文献:
- CN101568845A 用于对待测设备进行测试的测试器、方法和计算机程序 公开/授权日：2009-10-28
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/319 | ....测试器硬件，即输出处理电路 |