基本信息:
- 专利标题： 确定表面的反射特征方法和设备
- 专利标题（英）：Apparatus and method for determining the reflection properties of a surface
- 申请号：CN200680043871.5 申请日：2006-11-22
- 公开(公告)号：CN101313208A 公开(公告)日：2008-11-26
- 发明人： M·弗兰基奈特
- 申请人： 施雷德公司
- 申请人地址： 比利时布鲁塞尔
- 专利权人： 施雷德公司
- 当前专利权人： 施雷德公司
- 当前专利权人地址： 比利时布鲁塞尔
- 代理机构： 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理人： 秦晨
- 优先权： 2005/0575 2005.11.24 BE; 05111207.6 2005.11.24 EP; 06112416.0 2006.04.10 EP
- 国际申请： PCT/EP2006/068770 2006.11.22
- 国际公布： WO2007/060181 EN 2007.05.31
- 进入国家日期： 2008-05-23
- 主分类号： G01N21/47
- IPC分类号： G01N21/47 ; G01N21/57 ; G01B11/30
The invention relates to method for establishing light reflection properties of a specific surface, by measuring, for a plurality of comparison surfaces, the r-tables in accordance with CIE standard recommendations, measuring, for the same plurality of comparison surfaces, a light reflection parameter for selected angles (gama) of incident light and angles (a) and (ss) of reflected light, using a 'portable' measuring apparatus, measuring in situ, on multiple measuring points of said specific surface, said parameter for said angles (gama), (a) and (ss), using said 'portable' apparatus, comparing the angular distribution of said parameter for the specific surface with that for said comparison surfaces, to select the comparison surface showing the best distribution fit, optionally taking into account a rescaling factor on luminance coefficient Q0, and assigning to said specific surface the 'r-table' corresponding to said selected comparison surface, with said optional rescaling factor.
公开/授权文献:
- CN101313208B 确定表面的反射特性方法和设备 公开/授权日：2012-08-01
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/47 | ..散射，即漫反射 |