基本信息:
- 专利标题： FPGA、FPGA配置、调试系统和方法
- 专利标题（英）：FPGAFPGA, FPGA configuration, debug system and method
- 申请号：CN200610149473.3 申请日：2006-11-21
- 公开(公告)号：CN101191819A 公开(公告)日：2008-06-04
- 发明人： 李彧 , 杨雨东 , 林国辉 , 刘强
- 申请人： 国际商业机器公司
- 申请人地址： 美国纽约
- 专利权人： 国际商业机器公司
- 当前专利权人： 格芯公司
- 当前专利权人地址： 美国纽约
- 代理机构： 北京市中咨律师事务所
- 代理人： 李峥; 刘瑞东
- 主分类号： G01R31/3185
- IPC分类号： G01R31/3185 ; G01R31/317
摘要：
本发明提供了现场可编程门阵列(FPGA)、用于调试现场可编程门阵列的系统、用于调试现场可编程门阵列的方法、FPGA配置数据产品以及配置FPGA的方法和系统。根据本发明的一个方面，提供了一种现场可编程门阵列(FPGA)，具有待测逻辑单元，并包括：探测信号选择单元，用于从所述待测逻辑单元中的多个探测点中选择至少一个探测点，并获取所述探测点处的探测信号；以及高速串行收发机，用于将所述探测信号转变为高速串行的信号并且发送到外部。
摘要（英）：
The invention provides a field programmable gate array ( FPCA), a system for debugging the field programmable gate array, a method for debugging the field programmable gate array, a FPGA configuration data product, a method for configuring the FPGA and a system thereof. In one respect of the invention, a field programmable gate array with a logic unit to be tested is provided, which comprises a detected signal selecting unit for selecting one detected point form a plurality of detected pointes in the logic unit to be tested and acquiring the detected signal at the detected point and a high-speed serial transceiver for converting the detected signals into high-speed serial signals and sending the high-speed serial signals out.
公开/授权文献:
- CN101191819B FPGA、FPGA配置、调试系统和方法 公开/授权日：2012-05-23
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/02 | .对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试 |
| ----------G01R31/317 | ..数字电路的测试 |
| ------------G01R31/3181 | ...性能测试 |
| --------------G01R31/3185 | ....测试的重新配置，例如LSSD，划分 |