![用于集成电路芯片的宇宙射线检测器](/CN/2005/8/4/images/200580021288.jpg)
基本信息:
- 专利标题: 用于集成电路芯片的宇宙射线检测器
- 专利标题(英):Cosmic ray detectors for integrated circuit chips
- 申请号:CN200580021288.X 申请日:2005-06-29
- 公开(公告)号:CN101160536A 公开(公告)日:2008-04-09
- 发明人: E·C·汉纳
- 申请人: 英特尔公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人: 英特尔公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人: 曾祥夌; 梁永
- 优先权: 10/882,917 2004.06.30 US
- 国际申请: PCT/US2005/023252 2005.06.29
- 国际公布: WO2007/001307 EN 2007.01.04
- 进入国家日期: 2006-12-25
- 主分类号: G01T1/00
- IPC分类号: G01T1/00 ; G06F11/00 ; H01L31/00
摘要:
在一些实施例中,宇宙射线检测器包括具有第一探针的悬臂。该检测器还包括第二探针和电路,以便提供信号,所述信号指示所述第一探针与第二探针之间的距离是由宇宙射线相互作用事件所引起的。还描述其他实施例并要求权利。
公开/授权文献:
- CN101160536B 用于集成电路芯片的宇宙射线检测器 公开/授权日:2011-07-06
IPC结构图谱:
G | 物理 |
--G01 | 测量;测试 |
----G01T | 核辐射或X射线辐射的测量 |
------G01T1/00 | X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量 |