基本信息:
- 专利标题： 借助FTIR光谱法在冶金成套设备上无接触废气测量的方法和装置
- 专利标题（英）：Method and device for non-contact exhaust gas measurement by means of FTIR spectroscopy on metallurgical plants
- 申请号：CN200580027303.1 申请日：2005-06-24
- 公开(公告)号：CN100549673C 公开(公告)日：2009-10-14
- 发明人： O·扬纳施
- 申请人： SMS迪马格股份公司
- 申请人地址： 德国杜塞尔多夫
- 专利权人： SMS迪马格股份公司
- 当前专利权人： SMS迪马格股份公司
- 当前专利权人地址： 德国杜塞尔多夫
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 曹若; 胡强
- 优先权： 102004039076.2 2004.08.12 DE
- 国际申请： PCT/EP2005/006848 2005.06.24
- 国际公布： WO2006/015660 DE 2006.02.16
- 进入国家日期： 2007-02-12
- 主分类号： G01N21/35
- IPC分类号： G01N21/35 ; G01N21/85 ; G01N21/27 ; C21C5/30
摘要：
在设备部件中、例如在转炉中实施冶金工艺时，了解随着时间变化的废气组成成分是重要的辅助手段，以便提供关于工艺进程的情况并可以相应地对工艺进程进行控制。公开的可行分析方法例如是从废气流(7)获取有限的体积，然后对该废气试样例如进行光谱分析。在这种基于采样的分析方法中不利的是时间延迟，分析结果在采样后经过该时间延迟后才能得到。因此根据本发明提出，借助FTIR光谱仪无时间延迟地实施无接触的废气分析，其中得到的FTIR光谱仪(2)的光谱借助事先获得的数学模型用于计算废气组成成分。
公开/授权文献:
- CN101002080A 借助FTIR光谱法在冶金成套设备上无接触废气测量 公开/授权日：2007-07-18
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N21/00 | 利用光学手段，即利用红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料 |
| --------G01N21/01 | .便于进行光学测试的装置或仪器 |
| ----------G01N21/21 | ..影响偏振的性质 |
| ------------G01N21/31 | ...测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术 |
| --------------G01N21/35 | ....利用红外光 |