基本信息:
- 专利标题： 线圈退化诊断方法和线圈退化诊断装置
- 专利标题（英）：Method for diagnosing deterioration of coil and system for diagnosing deterioration of coil
- 申请号：CN03809365.0 申请日：2003-02-17
- 公开(公告)号：CN100504421C 公开(公告)日：2009-06-24
- 发明人： 井上良之 , 长谷川博 , 高桥伸二 , 小川浩昭 , 关户忍
- 申请人： 株式会社东芝 , 东芝植物系统和服务公司
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 株式会社东芝,东芝植物系统和服务公司
- 当前专利权人： 东芝能源系统株式会社
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 永新专利商标代理有限公司
- 代理人： 王英
- 优先权： 126293/2002 2002.04.26 JP
- 国际申请： PCT/JP2003/001649 2003.02.17
- 国际公布： WO2003/091743 JA 2003.11.06
- 进入国家日期： 2004-10-26
- 主分类号： G01R31/34
- IPC分类号： G01R31/34 ; G01R31/06 ; G01R31/12
摘要：
根据本发明的线圈退化诊断方法，用绝缘层覆盖直接用介质冷却的导体，线圈由要安装在绝缘层中的内部电极构成，AC电压加在线圈的导体上，通过面对线圈的电位测量探头测量内部电极的电位，并且如果测得的电位高于正常线圈的电位，则确定介质从导体泄漏到绝缘层，并且其绝缘退化。根据上述结构，可以提供改善的线圈退化诊断方法和适用于该诊断方法的改善的线圈退化诊断装置，通过简便的过程，能够容易、精确和可靠的检测当用水直接冷却导体的线圈由于水从导体泄漏到绝缘层中产生的绝缘退化。
公开/授权文献:
- CN1650185A 线圈退化诊断方法和线圈退化诊断装置 公开/授权日：2005-08-03
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01R | 测量电变量；测量磁变量（通过转换成电变量对任何种类的物理变量进行测量参见G01类名下的 |
| ------G01R31/00 | 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置 |
| --------G01R31/34 | .电机的测试 |