基本信息:
- 专利标题： 鉴定糖链结构的方法
- 专利标题（英）：Method of identifying sugar chain structure
- 申请号：CN200580008027.4 申请日：2005-03-18
- 公开(公告)号：CN100495016C 公开(公告)日：2009-06-03
- 发明人： 龟山昭彦 , 成松久 , 菊池纪广 , 中家修一
- 申请人： 独立行政法人产业技术综合研究所 , 三井情报开发株式会社 , 株式会社岛津制作所
- 申请人地址： 日本东京
- 专利权人： 独立行政法人产业技术综合研究所,三井情报开发株式会社,株式会社岛津制作所
- 当前专利权人： 独立行政法人产业技术综合研究所,三井情报开发株式会社,株式会社岛津制作所
- 当前专利权人地址： 日本东京
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理人： 王旭
- 优先权： 080611/2004 2004.03.19 JP
- 国际申请： PCT/JP2005/005630 2005.03.18
- 国际公布： WO2005/090963 EN 2005.09.29
- 进入国家日期： 2006-09-12
- 主分类号： G01N27/62
- IPC分类号： G01N27/62
摘要：
本发明的目的是提供一个分析糖链结构的系统，其能够用少量样品简单而快速地确定糖链的完整一级结构。在鉴定一个分析目标糖链结构的方法中，用质谱仪通过比较测量的MS3碎片图谱和数据库中所存参考MS3碎片图谱，这里测量的MS3碎片图谱是包含在测量的MS2碎片图谱中的每一个MS2碎片离子的碎裂图谱，其通过将分析目标糖链进行碎裂质谱分析而获得，本发明的特征在于，包含在测量的MS2碎片图谱中的多个MS2碎片离子中，只有对选定的MS2碎片离子进行碎裂质谱分析，这里每一个选定的MS2碎片离子具有存储于数据库中的多个参考MS3碎片图谱，其相互的相似指数小于一个预定值，其中多个参考MS3碎片图谱和选定的MS2碎片离子具有同样的先驱离子质荷比。
公开/授权文献:
- CN1930470A 鉴定糖链结构的方法及其分析装置 公开/授权日：2007-03-14
IPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G01 | 测量；测试 |
| ----G01N | 借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料 |
| ------G01N27/00 | 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料 |
| --------G01N27/62 | .通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射 |