基本信息:
- 专利标题： 用于测量投影系统会聚对准状况的系统和方法
- 专利标题（英）：System and method for measuring convergence alignment of projection system
- 申请号：CN00806283.8 申请日：2000-03-08
- 公开(公告)号：CN100380988C 公开(公告)日：2008-04-09
- 发明人： R·D·史密斯
- 申请人： 英特尔公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： 英特尔公司
- 当前专利权人： 英特尔公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理人： 王岳; 王忠忠
- 优先权： 09/293,189 1999.04.16 US
- 国际申请： PCT/US2000/005910 2000.03.08
- 国际公布： WO2000/064188 EN 2000.10.26
- 进入国家日期： 2001-10-16
- 主分类号： H04N9/28
- IPC分类号： H04N9/28 ; H04N17/04 ; H04N9/31
摘要：
测量会聚对准状况的系统(402)可以包括一个光学系统(400)，它安排成优先地成像和放大显示屏幕区域(428)，这些区域处在通常由使用者观看的区域的外部。那个区域(428)可以包括会聚标靶(425)，这些标靶可以与显示的每个角落相关联。那个信息可以作为一元化的图像提供给成像传感器(414)，它在其后可用于分析该信息，而且，如果希望的话，还可做适当的校正。
公开/授权文献:
- CN1347622A 投影系统汇聚对准状况的测量 公开/授权日：2002-05-01