一种FPGA中双端口SRAM阵列的内建自测和修复系统及其方法

摘要

本发明公开了一种FPGA中双端口SRAM阵列的内建自测和修复系统，包含：检测模块，用于获取内建自测过程的开始信号；自测试模块，包含：测试波形产生单元，用于产生不同的测试波形及读写控制信号；故障检测单元，用于比较从SRAM阵列的端口中读出的数据与预期数据，若不一致，则产生故障指示信号；存储单元，用于记录读出的数据、预期数据以及读出的数据与预期数据的对比结果；切换单元，用于切换测试的端口；还包含自修复模块，用于根据故障指示信号及对比结果对SRAM阵列进行修复。本发明还公开了一种内建自测和修复方法。本发明将双端口SRAM阵列配置成A端口写B端口读或者B端口写A端口读来测试，保证测试故障覆盖率高，并且测试和修复的效率高。