代理专利文献：43171，涉及专利：10000件
覆盖主要的IPC大类包括：H01(8903)、G01(2815)、G06(2303)、H04(1632)、G03(1566)、H02(1259)、A61(1052)、E04(903)、F16(788)、B60(653)
专利类型分布状况：发明公开(20024)、实用新型(9656)、外观设计(3232)、发明申请(575)
专利不同法律状态数据分布状况：有效专利(12608)、失效专利(10584)、无效专利(7477)、实质审查(2158)、公开(649)
涉及到的主要客户：上海华力微电子有限公司(3169)、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司(2744)、上海华虹宏力半导体制造有限公司(2415)、上海电机学院(2095)、上海微电子装备有限公司(1669)、联合汽车电子有限公司(1534)、武汉新芯集成电路制造有限公司(997)、上海宏力半导体制造有限公司(957)、上海微电子装备(集团)股份有限公司(922)、昆山市周市惠宏服装厂(889)
涉及到的主要发明人：解吉平(889)、严卫忠(349)、不公告发明人(231)、施晓旦(213)、倪雪明(199)、姚建平(199)、梁菊明(199)、蒋建业(199)、龚菊明(194)、杨光军(144)
发明专利授权成功率：100%
| 专利类型 | 专利名称 | 文献号 |
|---|---|---|
| 发明公开 | 半导体封装方法以及半导体封装结构 | CN120511247A |
| 发明公开 | 一种轻掺杂区域图形的调整方法 | CN120500103A |
| 发明公开 | 一种芯片失效测试方法 | CN120472968A |
| 发明公开 | 用于生成数字染色组织学图像的系统和方法 | CN120457465A |
| 发明授权 | 双目相机立体校正方法、系统及装置 | CN115546059B |
| 发明授权 | 一种有效分辨闪存真假数据保留性失效的测试方法 | CN116110480B |
| 发明公开 | 眼科用多参数眼健康测量装置 | CN120417829A |
| 发明公开 | 半导体器件及其制造方法 | CN120417481A |
| 发明公开 | 电容器及其制造方法 | CN120417468A |
| 发明公开 | 集成存储器芯片的制造方法及其结构 | CN120417396A |
| 排名 | 企业名称 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 上海华力微电子有限公司 | 3169 |
| 2 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 2744 |
| 3 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 2415 |
| 4 | 上海电机学院 | 2095 |
| 5 | 上海微电子装备有限公司 | 1669 |
| 6 | 联合汽车电子有限公司 | 1534 |
| 7 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | 997 |
| 8 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 957 |
| 9 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | 922 |
| 10 | 昆山市周市惠宏服装厂 | 889 |
| 排名 | 发明人 | 专利 |
|---|---|---|
| 1 | 解吉平 | 889 |
| 2 | 严卫忠 | 349 |
| 3 | 不公告发明人 | 231 |
| 4 | 施晓旦 | 213 |
| 5 | 倪雪明 | 199 |
| 6 | 姚建平 | 199 |
| 7 | 梁菊明 | 199 |
| 8 | 蒋建业 | 199 |
| 9 | 龚菊明 | 194 |
| 10 | 杨光军 | 144 |
